पथ :OKDatasheet > सेमीकंडक्टर Datasheet > TI Datasheet > SNJ54BCT8240AFK
माड्यूल SNJ54BCT8240AFK : SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS
इसी प्रकार केSNJ54BCT8240AFK
- SNJ5400J
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES
- SNJ5400W
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES
- SNJ5400WA
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES
- SNJ5401J
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES WITH OPEN-COLLECTOR OUTPUT
- SNJ5401W
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES WITH OPEN-COLLECTOR OUTPUT
- SNJ5402J
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NOR GATES
- SNJ5402J
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NOR GATES
- SNJ5402W
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NOR GATES
SNJ54BCT8240AFK Datasheet और माड्यूल
निर्माता : TI
पैकिंग : FK
पिन : 28
तापमान : न्यूनतम -55 °C | अधिकतम 125 °C
आकार : 322 KB
अनुप्रयोग : SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS
SNJ54BCT8240AFK पीडीएफ डाउनलोड करें
